电子部件处理装置以及电子部件试验装置
授权
摘要
提供一种可谋求提升试验质量的电子部件处理装置。对具有温度检测电路(92)的DUT(90)进行处理、且向与测试器(10)电连接的插座(11)按压DUT(90)的电子部件处理装置(20)具备：调整DUT(90)的温度的温度调整装置(40)、从测试器(10)接收表示DUT(90)的结温(Tj)的第1信号的第1接收部(51)、从测试器(10)接收表示温度检测电路(92)的检测值(Tj+c)的第2信号的第2接收部(52)、使用第1信号和第2信号对DUT(90)的温度(Tj’)进行运算的第1运算部(54)、及基于第1运算部(54)的计算结果对温度调整装置(40)进行控制的温度控制部(55)。
基本信息
专利标题 ：
电子部件处理装置以及电子部件试验装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN109580991A
申请号 ：
CN201810874808.0
公开（公告）日 ：
2019-04-05
申请日 ：
2018-08-03
授权号 ：
CN109580991B
授权日 ：
2022-05-03
发明人 ：
渡边克彦
申请人 ：
株式会社爱德万测试
申请人地址 ：
日本国东京都练马区旭町1丁目32番1号
代理机构 ：
北京汇思诚业知识产权代理有限公司
代理人 ：
龚敏
优先权 ：
CN201810874808.0
主分类号 ：
G01R1/02
IPC分类号 ：
G01R1/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
法律状态
2022-05-03 ：
授权
2020-08-04 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 1/02
申请日 : 20180803
申请日 : 20180803
2019-04-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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