使用微机电系统滤波器测试电子电路的装置和方法

发明专利申请公布后的视为撤回

摘要

本发明公开了一种混合信号集成电路测试设备(10)，包括：测试电子部件(140)，用于生成输入被测器件(50)的测试信号和接收来自所述被测器件(50)的响应信号；以及连接在所述测试电子部件(140)和所述被测器件(50)之间的接口(150)。所述接口(150)包括用于对与所述测试信号和所述响应信号二者中的一个相关联的模拟信号进行滤波的微机电系统(MEMS)滤波器(160)。

基本信息

专利标题：

使用微机电系统滤波器测试电子电路的装置和方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1815251A

申请号：

CN200610003235.1

公开（公告）日：

2006-08-09

申请日：

2006-01-27

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

迈克尔·J·温斯坦杜恩坎·果尔蕾

申请人：

安捷伦科技有限公司

申请人地址：

美国加利福尼亚州

代理机构：

北京东方亿思知识产权代理有限责任公司

代理人：

王怡

优先权：

CN200610003235.1

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 G01R31/3167

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01R

测量电变量；测量磁变量

G01R31/28

•电路的测试，例如用信号故障寻测器

法律状态

2010-08-11 ：

发明专利申请公布后的视为撤回

号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101003937649
IPC(主分类) : G01R 31/28
专利申请号 : 2006100032351
公开日 : 20060809

2008-04-09 ：

实质审查的生效

2006-08-09 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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