用于测量颗粒物质的质量流率的装置
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摘要

本发明涉及测量以为动的方向的预定方向移动的颗粒物质流的质量流率的装置,其特征在于:其在颗粒物质流内并具有由在内外表面间限定的管状壁组成的称量单元,其具有体积、截面、重量预定值,且设置为颗粒物质流穿过它;至少在第一预定时间间隔称量由称量单元和包含在其中的颗粒物质的量构成的整体及产生至少代表该重量的值的第一信号的第一设备;至少在第一预定时间间隔测量流经称量单元的颗粒物质流动速度并产生代表包含在其中的颗粒物质流动速度的第二信号的第二设备;用第一信号、第二信号、称量单元体积、截面以及重量预定值计算颗粒物质体积密度,在第一预定时间间隔流经其的颗粒物质质量流率及产生代表该质量流率的第三信号的第三设备。

基本信息
专利标题 :
用于测量颗粒物质的质量流率的装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1815152A
申请号 :
CN200610006844.2
公开(公告)日 :
2006-08-09
申请日 :
2006-02-05
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
Y·茨维费尔
申请人 :
梅力弗公司
申请人地址 :
瑞士埃居布朗
代理机构 :
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 :
原绍辉
优先权 :
CN200610006844.2
主分类号 :
G01F1/76
IPC分类号 :
G01F1/76  G01G11/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01F
容积、流量、质量流量或液位的测量;按容积进行测量
G01F1/00
测量连续通过仪表的流体或流动固体材料的流量或质量流量
G01F1/76
测量流体或流动固体材料质量流量的装置
法律状态
2008-12-03 :
授权
2007-10-31 :
实质审查的生效
2006-08-09 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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