一种高反镜反射率的测量方法
专利权的终止
摘要
一种高反镜反射率的测量方法，其特征在于：采用方波或正弦波调制的宽谱连续激光作光源，入射到两块高反镜组成的稳定谐振腔，由方波调制时单个周期波形的上升阶段和下降阶段拟合得到衰荡时间和腔镜反射率，或以锁相方式探测光腔输出信号的一次或奇次谐波，由其振幅和相位正切值随调制角频率的变化曲线拟合得到衰荡时间和腔镜反射率。保持腔长不变，加入测试镜组成稳定折叠腔，重复上述过程可得测试镜反射率。本发明测量精度高，成本低。
基本信息
专利标题 ：
一种高反镜反射率的测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1804572A
申请号 ：
CN200610011254.9
公开（公告）日 ：
2006-07-19
申请日 ：
2006-01-23
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李斌成龚元
申请人 ：
中国科学院光电技术研究所
申请人地址 ：
610209四川省成都市双流350信箱
代理机构 ：
北京科迪生专利代理有限责任公司
代理人 ：
刘秀娟
优先权 ：
CN200610011254.9
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02 G01N21/55
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2016-03-16 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101650104061
IPC(主分类) : G01M 11/02
专利号 : ZL2006100112549
申请日 : 20060123
授权公告日 : 20101020
终止日期 : 20150123
号牌文件序号 : 101650104061
IPC(主分类) : G01M 11/02
专利号 : ZL2006100112549
申请日 : 20060123
授权公告日 : 20101020
终止日期 : 20150123
2010-10-20 ：
授权
2008-11-19 ：
实质审查的生效
2006-07-19 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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