快速检验镜片缺陷的方法
专利权的终止
摘要

一种快速检验镜片缺陷的方法,用于检验镜片,其包括以下步骤:提供一数据处理装置、一影像撷取装置及一承载部,其中该影像撷取装置集合显微镜及影像感测器于一体,且与数据处理装置电连接;该承载部包括按一定规律排列的多个容置孔;将镜片放在该承载部的容置孔内;使用影像撷取装置扫描镜片,并将所扫描的图像传送至数据处理装置;数据处理装置根据影像撷取装置传送的图像判别镜片是否有缺陷,并记录缺陷镜片的位置。

基本信息
专利标题 :
快速检验镜片缺陷的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101025399A
申请号 :
CN200610033891.6
公开(公告)日 :
2007-08-29
申请日 :
2006-02-20
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
萧博元
申请人 :
鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请人地址 :
518109广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN200610033891.6
主分类号 :
G01N21/958
IPC分类号 :
G01N21/958  B07C5/342  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
G01N21/958
检测透明材料
法律状态
2016-04-06 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101654742327
IPC(主分类) : G01N 21/958
专利号 : ZL2006100338916
申请日 : 20060220
授权公告日 : 20100929
终止日期 : 20150220
2010-09-29 :
授权
2008-06-25 :
实质审查的生效
2007-08-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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