一体式缺陷检验装置
授权
摘要
本申请公开了一体式缺陷检验装置，包括裁剪装置、桥架装置和检验区装置，所述裁剪装置通过所述桥架装置与所述检验区装置桥接。本申请的一体式缺陷检验装置多个不同功能的装置彼此连接，避免发生位置移动导致需要经常调整设备参数，十分方便。
基本信息
专利标题 ：
一体式缺陷检验装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920542806.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-19
授权号 ：
CN209841727U
授权日 ：
2019-12-24
发明人 ：
金玲玲饶东升敖大欣
申请人 ：
深圳灵图慧视科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区西丽街道南山云谷二期8栋203B
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201920542806.1
主分类号 ：
G01N21/892
IPC分类号 ：
G01N21/892 G01N21/898 D06H3/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/89
在移动的材料中，例如，纸张、织物中
G01N21/892
特征在于待测的瑕疵、缺陷或物品的特点
法律状态
2019-12-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN209841727U.PDF
PDF下载
