微型真空泵负压源的微流控芯片负压进样方法

发明专利申请公布后的视为撤回

摘要

一种微型真空泵负压源的微流控芯片负压进样方法，其特征是采用专用负压进样和分离的装置上进行，操作步骤是：首先设定电触点真空表的最大真空度和最小真空度，接通微型真空泵电源，使真空瓶内形成负压，电触点真空表作为控制微型真空泵的开关和用于指示真空瓶内压力，使瓶内真空度稳定在设定的范围内；在进样阶段，三通电磁阀通电，三通电磁阀b端口与c端口连通，微流控芯片样品废液池中形成负压，使样品池中的样品，缓冲溶液池和缓冲溶液废液池中的溶液流入废液池，样品溶液在进样通道和分离通道的交叉处形成稳定的样品塞；在分离阶段，三通电磁阀断电，三通电磁阀b端和a端连通，微流控芯片交叉处形成皮克级的样品塞被加在分离通道上的电场所产生的电渗流带入分离通道分离测定。本发明成本低廉，自动控制真空瓶内的真空度，进样和分离的

基本信息

专利标题：

微型真空泵负压源的微流控芯片负压进样方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1831537A

申请号：

CN200610048907.0

公开（公告）日：

2006-09-13

申请日：

2006-01-05

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

殷学锋张磊

申请人：

浙江大学

申请人地址：

310027浙江省杭州市西湖区玉古路20号

代理机构：

杭州中成专利事务所有限公司

代理人：

盛辉地

优先权：

CN200610048907.0

主分类号：

G01N35/10

IPC分类号：

G01N35/10 G01N27/453 B01D57/02