电磁双重屏蔽膜
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要

本发明属于新型抗电磁干扰(EMI)屏蔽技术领域,特别是涉及一种电磁双重屏蔽膜,包括铁、铬、镍、钛锰、钴,其特征在于所述金属成分的百分含量为:Fe:30%~85%,Cr:5%~50%,Ni:1%~20%,Ti:1~10%;所述金属成分按照铬当量([Cr]=Cr+Mo+0.015Si+0.005Ti)和镍当量([Ni]=Ni+0.3C+0.005Mn)成分配比,计算的镍当量[Ni]小于24,铬当量大于16;由于本发明是采用奥氏体的镍铬类不锈钢作为溅射靶材,鉴于奥氏体是顺磁体,它具有较高的溅射成膜速率,通过溅射可以快速获得铁磁性的铁素体不锈钢薄膜,该薄膜具有磁屏蔽和电屏蔽效果,并且具有不锈钢材料良好的耐候性,它是一种镀覆于电子产品塑料外壳表面的理想金属膜之一。

基本信息
专利标题 :
电磁双重屏蔽膜
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1819758A
申请号 :
CN200610049911.9
公开(公告)日 :
2006-08-16
申请日 :
2006-03-20
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
董树荣王德苗任高潮
申请人 :
浙江大学
申请人地址 :
310027浙江省杭州市西湖区浙大路38号
代理机构 :
杭州君易知识产权代理事务所
代理人 :
陈向群
优先权 :
CN200610049911.9
主分类号 :
H05K9/00
IPC分类号 :
H05K9/00  G12B17/02  
法律状态
2008-08-20 :
发明专利申请公布后的视为撤回
2006-10-11 :
实质审查的生效
2006-08-16 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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