单根纳米线原位力学性能测试和结构分析的方法及其装置
专利权的终止
摘要
本发明属纳米材料原位表征领域。现有纳米材料力学性能测试中性能测试和结构分析是分开进行的，且操作复杂等。本发明方法：纳米线放入有机溶剂中，超声波分散10－30分钟成悬浮液后滴在涂有60－120nm火棉胶支持膜的金属载网上，使纳米线附着在支持膜上；将金属载网固定在试样座上放入透射电镜中；测量纳米线的原始长度l0和直径d0，调整透射电镜的电子束加速电压为80KV至400KV，束流密度在1020至8×1030电子/平方厘米秒，使火棉胶支持膜发生变形；纳米线随之变形；实时原位记录纳米线的变形过程中结构变化；测量变形后纳米线长度l和直径d，用公式n＝l0/d0计算纳米线的长度和直径比，ε＝l－l0/l0计算纳米线的最大应变量。本发明成本低工艺简单，从纳米尺度及原子层次上揭示一维纳米线的力学性
基本信息
专利标题 ：
单根纳米线原位力学性能测试和结构分析的方法及其装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1815180A
申请号 ：
CN200610057989.5
公开（公告）日 ：
2006-08-09
申请日 ：
2006-03-03
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
韩晓东张跃飞张泽
申请人 ：
北京工业大学
申请人地址 ：
100022北京市朝阳区平乐园100号
代理机构 ：
北京思海天达知识产权代理有限公司
代理人 ：
张慧
优先权 ：
CN200610057989.5
主分类号 ：
G01N13/10
IPC分类号 ：
G01N13/10 G01N1/38 G01B21/00
法律状态
2021-02-23 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01N 13/10
申请日 : 20060303
授权公告日 : 20090729
终止日期 : 20200303
申请日 : 20060303
授权公告日 : 20090729
终止日期 : 20200303
2009-07-29 ：
授权
2006-10-04 ：
实质审查的生效
2006-08-09 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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