一种从径向测量转动轴轴向位移的方法及其传感器
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
本发明涉及一种从径向测量转动轴轴向位移的方法及其传感器，属于传感器技术和间隙或位移测量技术领域。首先在被测转动轴上设置转子，并套装两个定子，定子与转子构成位移测量传感器。定子为一内环带有齿状探头的圆环铁芯，齿状探头上绕有线圈，转动轴的轴向位移为：△Z=a0△L/4μ发明的方法及其传感器，通过径向布置的电感线圈对位移信号进行测量和处理，消除了径向间隙发生变化对轴向位移测量的影响，减少测量空间，有效地抵消温度变化、电磁辐射、地线传导等外部因素对测量的共模干扰，大大提高了测量的精度和抗干扰能力。
基本信息
专利标题 ：
一种从径向测量转动轴轴向位移的方法及其传感器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1818540A
申请号 ：
CN200610064941.7
公开（公告）日 ：
2006-08-16
申请日 ：
2006-03-17
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
时振刚赵晶晶赵雷周燕孙卓查美生石磊
申请人 ：
清华大学
申请人地址 ：
100084北京市海淀区清华园
代理机构 ：
北京清亦华知识产权代理事务所
代理人 ：
罗文群
优先权 ：
CN200610064941.7
主分类号 ：
G01B7/02
IPC分类号 ：
G01B7/02 G01B7/14 G01D5/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/00
以采用电或磁的方法为特征的计量设备
G01B7/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2008-04-16 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2006-10-11 ：
实质审查的生效
2006-08-16 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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