本发明提供一种成像检查装置，其利用定位于一框架上的复数个单独的成像检查器件(例如X射线计算机层析照相扫描器件)将光束射至其中具有物体的物件上，以根据既定标准来探测所述物体。所述装置利用一不在实体上耦接至具有所述成像检查器件的所述框架的输送机将所述物件沿一行进路径传送至一位于所述装置内的检查位置，在所述检查位置上所述检查器件将光束射至所述物件上，且对所述光束进行探测并向一处理与分析总成提供输出信号，由所述处理与分析总成对所述信号进行分析并识别出符合所述标准的某些物体。