一种辐射成像指标测试设备及检查装置

专利申请权、专利权的转移

摘要

本实用新型公开了一种辐射成像指标测试设备，包括：调整机构；测试体，测试体安置在调整机构上，调整机构带动测试体移动；探测区，探测区设置有多个探测器，多个探测器覆盖整个射线束能到达的位置；检查装置，检查装置包括标志物，标志物中心线所在直线与测试体沿射线方向中心线平行并在扫描方向上位于相同高度，且位于辐射源源点和探测区之间。本实用新型的技术方案提高了对辐射成像指标测试装置中测试角度调整的精确度，更加直观、便捷，操作性强。

基本信息

专利标题：

一种辐射成像指标测试设备及检查装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921404935.0

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-08-27

授权号：

CN210775283U

授权日：

2020-06-16

发明人：

曹艳锋郭近贤王少锋

申请人：

北京君和信达科技有限公司

申请人地址：

北京市西城区新街口外大街8号12幢103号

代理机构：

北京连和连知识产权代理有限公司

代理人：

刘小峰

优先权：

CN201921404935.0

主分类号：

G01N23/04

IPC分类号：

G01N23/04 G01N23/06