辐射仪设备性能指标试验数据检验方法、装置
实质审查的生效
摘要

本发明实施例提供了一种辐射仪性能指标试验数据检验方法、装置、电子设备和存储介质,所述检验方法通过获取被测的辐射仪设备性能指标试验数据,所述性能指标试验数据包括,γ剂量率、γ累积剂量;对所述试验数据进行计算,得到γ剂量率相对固有误差、γ累积剂量相对固有误差、能量响应误差、角响应误差;汇总各项试验的指标数据,基于预先配置的进行试验的项目和各项目的合格判定准则输出试验报告,汇总各测量点的误差结果,形成被测的辐射仪设备的误差总结果。本发明自动获取并记录性能指标试验数据,自动计算误差等指标数据,给出合格结论,数据采集结束后实时计算试验结论,第一时间给出试验结论。

基本信息
专利标题 :
辐射仪设备性能指标试验数据检验方法、装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114384575A
申请号 :
CN202111595013.4
公开(公告)日 :
2022-04-22
申请日 :
2021-12-23
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
贾桂芳涂德海任恒飞谷唯张阳天
申请人 :
北京方鸿智能科技有限公司
申请人地址 :
北京市密云区经济开发区园林路18号17号楼5206室
代理机构 :
北京维正专利代理有限公司
代理人 :
谢明晖
优先权 :
CN202111595013.4
主分类号 :
G01T1/02
IPC分类号 :
G01T1/02  G01T7/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/02
剂量计
法律状态
2022-05-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01T 1/02
申请日 : 20211223
2022-04-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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