表面污染检测类设备性能指标数据检测方法、装置
实质审查的生效
摘要
本发明实施例提供了一种表面污染检测类设备性能指标数据检测方法、装置、电子设备和存储介质,所述检测方法通过配置含有标准源信息的标准源库,其中所述标准源信息是根据源信息、校准日期和源面积计算的;获取检测需要的数据,所述数据包括设备的有效探测面积、标准源信息和设备示值(α、β表面活度,α、β计数率);根据所述数据计算相对固有误差、探测效率和串道率;汇总所述相对固有误差、探测效率和串道率,输出试验报告并得出汇总结论;自动记录设备示值和计算相对固有误差、探测效率和串道率,给出合格结论,数据采集结束后实时计算试验结论,第一时间给出试验结论,降低试验人员技术门槛,极大提高试验数据处理效率,且不影响试验进度。
基本信息
专利标题 :
表面污染检测类设备性能指标数据检测方法、装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114325801A
申请号 :
CN202111594933.4
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-23
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
谷唯涂德海贾桂芳任恒飞张阳天
申请人 :
北京方鸿智能科技有限公司
申请人地址 :
北京市密云区经济开发区园林路18号17号楼5206室
代理机构 :
北京维正专利代理有限公司
代理人 :
谢明晖
优先权 :
CN202111594933.4
主分类号 :
G01T1/169
IPC分类号 :
G01T1/169 G01T7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/169
污染的表面面积的探查和定位
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01T 1/169
申请日 : 20211223
申请日 : 20211223
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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