利用前向散射辐射检查物体的设备
专利权的终止
摘要
公开了一种利用前向散射辐射来检查物体的设备,包括:辐射源,产生高能射线;第一准直系统,使得辐射源可产生扇形的第一辐射,同时产生与第一辐射成预定角度的第二辐射;散射体,用于从所述第二辐射产生前向散射辐射;第二准直系统,让散射体产生的前向散射辐射以一点源形式向被检物体发射扇形束;第一探测器阵列,用于探测第一辐射穿透被检物体的第一穿透值;第二探测器阵列,用于探测前向散射辐射穿透被检物体的第二穿透值;以及与第一和第二探测器阵列相连的处理器,用于对第一和第二探测值进行处理,得到物体的材料属性。本实用新型可用在海关、港口、机场对货物进行不开箱检查,也可用于生物学研究或医学检测。
基本信息
专利标题 :
利用前向散射辐射检查物体的设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820080492.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-05-09
授权号 :
CN201222039Y
授权日 :
2009-04-15
发明人 :
王学武钟华强李清华王小兵
申请人 :
清华大学;同方威视技术股份有限公司
申请人地址 :
100084北京市海淀区清华大学
代理机构 :
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 :
王波波
优先权 :
CN200820080492.X
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04 H05G1/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2014-07-02 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101583404549
IPC(主分类) : G01N 23/04
专利号 : ZL200820080492X
申请日 : 20080509
授权公告日 : 20090415
终止日期 : 20130509
号牌文件序号 : 101583404549
IPC(主分类) : G01N 23/04
专利号 : ZL200820080492X
申请日 : 20080509
授权公告日 : 20090415
终止日期 : 20130509
2009-04-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
CN201222039Y.PDF
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