利用前向散射辐射检查物体的设备

专利权的终止

摘要

公开了一种利用前向散射辐射来检查物体的设备，包括：辐射源，产生高能射线；第一准直系统，使得辐射源可产生扇形的第一辐射，同时产生与第一辐射成预定角度的第二辐射；散射体，用于从所述第二辐射产生前向散射辐射；第二准直系统，让散射体产生的前向散射辐射以一点源形式向被检物体发射扇形束；第一探测器阵列，用于探测第一辐射穿透被检物体的第一穿透值；第二探测器阵列，用于探测前向散射辐射穿透被检物体的第二穿透值；以及与第一和第二探测器阵列相连的处理器，用于对第一和第二探测值进行处理，得到物体的材料属性。本实用新型可用在海关、港口、机场对货物进行不开箱检查，也可用于生物学研究或医学检测。

基本信息

专利标题：

利用前向散射辐射检查物体的设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820080492.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-05-09

授权号：

CN201222039Y

授权日：

2009-04-15

发明人：

王学武钟华强李清华王小兵

申请人：

清华大学;同方威视技术股份有限公司

申请人地址：

100084北京市海淀区清华大学

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司

代理人：

王波波

优先权：

CN200820080492.X

主分类号：

G01N23/04

IPC分类号：

G01N23/04 H05G1/02