光学传感器
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
摘要

本实用新型公开了一种光学传感器,其包括一半导体激光光源,一设于半导体激光光源右侧的光束整形系统,一位于光束整形系统右侧并由采样气流与激光束垂直相交形成的区域为光敏感区,一设于光敏感区右侧的挡光器,一用于收集光敏感区产生的散射光信号的光信号收集系统,以及一用于接收散射光信号的半导体光电探测器。其中,光束整形系统包括沿激光束前进方向依次设置的一准直透镜以及一柱状透镜。所述光信号收集系统至少包括一凹面反射镜,凹面反射镜与半导体光电探测器位于所述光束整形系统与挡光器之间,并分设于光敏感区的前后两侧附近。本实用新型光学传感器具有体积小、结构简单紧凑、加工容易、信噪比高、灵敏度高、功耗低、成本低等特点。

基本信息
专利标题 :
光学传感器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620014213.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-06-09
授权号 :
CN2935133Y
授权日 :
2007-08-15
发明人 :
林海雍华蓉
申请人 :
深圳市赛纳威环境仪器有限公司
申请人地址 :
518057广东省深圳市南山区高新区方大大厦9楼902室
代理机构 :
深圳中一专利商标事务所
代理人 :
张全文
优先权 :
CN200620014213.0
主分类号 :
G01N21/49
IPC分类号 :
G01N21/49  G01N15/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/47
散射,即漫反射
G01N21/49
固体或流体中的散射
法律状态
2009-09-09 :
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
2007-08-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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