公开了一种探测器阵列，包括：探测穿透被检物体的第一多个部分第一射线和第二射线的第一线阵探测器，其中第二射线和第一射线是交替发射的；以及与所述第一线阵探测器平行设置、探测穿透所述被检物体的第二多个部分的第一射线和第二射线的第二线阵探测器，其中所述第一多个部分和第二多个部分部分相同。利用所述探测器阵列，能够提高交替双能射线对被检物体的扫描检查效率和材料识别正确率。