测辐射热探测器、使用探测器的设备和制造探测器的方法

专利权的终止

摘要

本发明涉及一种用于电磁辐射的测辐射热探测器，其包括：敏感部分或膜，其包括敏感材料(6)的一个或多个层、与读出电路(1)保持电连续性的第一电导体元件、处于浮动电位的第二电导体元件；用于所述敏感部分的至少一个支撑区域(3)，其实现相对于所述读出电路定位所述敏感部分和电导体的功能；至少一个绝热结构(4)，其将每个支撑区域(3)电地和机械地连接到所述敏感部分；所述导体元件被分布为两个交叉的重叠的导电轨道的网络(5A，5B)，两个网络中的第一个(5A)包括所有所述第一导体元件。

基本信息

专利标题：

测辐射热探测器、使用探测器的设备和制造探测器的方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1834599A

申请号：

CN200610071119.3

公开（公告）日：

2006-09-20

申请日：

2006-03-15

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

M·维兰

申请人：

ULIS股份公司

申请人地址：

法国沃雷沃鲁瓦兹

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司

代理人：

李亚非

优先权：

CN200610071119.3

主分类号：

G01J5/20

IPC分类号：

G01J5/20 H01L31/00