一种宽谱短波红外激光成像探测器
专利权的终止
摘要
本实用新型提供了一种宽谱短波红外激光成像探测器,涉及红外光的探测技术领域。它包括机壳、将短波红外激光转换成可见光的光转换装置、光学耦合装置及可见光成像装置,上转换板的上设有需要可见光或者紫外光照射储能的电子俘获型上转换材料沉积层;可见光成像装置为硅阵列探测器;并有图像处理装置。本实用新型不仅具有宽谱短波红外激光的成像探测能力,而且具有分辨率高、灵敏度高、响应快速、性能可靠成本低廉、用途广等的显著特点。
基本信息
专利标题 :
一种宽谱短波红外激光成像探测器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620024351.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-05-08
授权号 :
CN2932376Y
授权日 :
2007-08-08
发明人 :
王金玉
申请人 :
王金玉
申请人地址 :
050003河北省石家庄市和平西路97号光电技术研究所
代理机构 :
石家庄新世纪专利商标事务所有限公司
代理人 :
张贰群
优先权 :
CN200620024351.7
主分类号 :
G01N21/84
IPC分类号 :
G01N21/84
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
法律状态
2010-09-01 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101005265748
IPC(主分类) : G01N 21/84
专利号 : ZL2006200243517
申请日 : 20060508
授权公告日 : 20070808
号牌文件序号 : 101005265748
IPC(主分类) : G01N 21/84
专利号 : ZL2006200243517
申请日 : 20060508
授权公告日 : 20070808
2007-08-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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