红外探测器以及用于消除红外探测器成像不均匀的装置
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摘要
本实用新型公开了一种红外探测器以及用于消除红外探测器成像不均匀的装置，其从消除内部发热源和减小红外反射杂散光两个方面来消除红外探测器成像不均匀。首先增加用于吸收杂散光的光栅，光栅位于镜头与探测器之间，用于挡住镜头后端除镜片外所有部分，光栅设有透光孔，与镜头对应，光栅采用表面粗糙、反射率低的材料。其次在镜头内部增加温度传感器，读取镜头内部温度后，处理器通过I2C总线配置DAC芯片输出一个相应的电压值，使TEC驱动芯片驱动TEC制冷或者加热，最后实现探测器温度和镜头内部温度一致，形成热平衡状态，消除镜头内部热源。其有操作简单，成本低廉，效果良好、通用性强的特点，可以预保护消除热源和减小红外杂散光。
基本信息
专利标题 ：
红外探测器以及用于消除红外探测器成像不均匀的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920897190.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-14
授权号 ：
CN209927296U
授权日 ：
2020-01-10
发明人 ：
高慕云商长弘黄晟王鹏周汉林
申请人 ：
武汉高德智感科技有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区黄龙山南路6号武汉高德红外工业园4栋3-6层
代理机构 ：
北京汇泽知识产权代理有限公司
代理人 ：
秦曼妮
优先权 ：
CN201920897190.X
主分类号 ：
G01J5/00
IPC分类号 ：
G01J5/00 G01J5/06
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
法律状态
2020-01-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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