非制冷红外探测器成像调节系统及方法
实质审查的生效
摘要

本发明提供了一种非制冷红外探测器成像调节系统及方法,所述系统包括阵列排布的多个红外探测器像元;多个AD采样单元,对应与每一红外探测器像元的CMOS电路连接,用于获取每一红外探测器像元中非晶硅热敏电阻的阻值,并经模拟转换后通过处理器上的串口发送至处理器内部设置的处理矩阵中;所述处理矩阵具有多个并列的处理单元,每一处理单元对应一AD采样单元;所述处理单元用于将AD采样单元得到并转化的非晶硅热敏电阻的阻值数据与设定阈值进行比较,并用标记单元标记低于设定阈值或者高于设定阈值的比较结果;调节单元,连接所述处理单元,用于基于所述标记单元来对应调节CMOS电路中差分电压进行增益或者衰减,以平衡每一CMOS电路的输出值。

基本信息
专利标题 :
非制冷红外探测器成像调节系统及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114353955A
申请号 :
CN202111666882.1
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
罗国栋
申请人 :
东莞市鑫泰仪器仪表有限公司
申请人地址 :
广东省东莞市塘厦镇塘厦社区宏业工业区13-16号F栋
代理机构 :
东莞技创百科知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
朱晓光
优先权 :
CN202111666882.1
主分类号 :
G01J5/20
IPC分类号 :
G01J5/20  G01J5/24  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
G01J5/10
用电辐射检测器
G01J5/20
用对辐射敏感的电阻器,热敏电阻器或半导体
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 5/20
申请日 : 20211231
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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