基于碳纳米管结构的红外探测器及红外成像仪
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摘要

一种基于碳纳米管结构的红外探测器,其包括:一红外光吸收体,用于吸收红外光并将该红外光转化为热量;一热电元件,所述红外光吸收体设置在该热电元件上;一电信号检测器,用于检测所述热电元件的电学性能的变化;所述红外光吸收体包括一碳纳米管结构,该碳纳米管结构包括一第一层碳纳米管拉膜、一第二层碳纳米管拉膜和一第三层碳纳米管拉膜,所述第一层碳纳米管拉膜、第二层碳纳米管拉膜和第三层碳纳米管拉膜层叠设置,所述第一层碳纳米管拉膜、第二层碳纳米管拉膜和第三层碳纳米管拉膜包括多个在碳纳米管的延伸方向上首尾相连且沿同一方向延伸的碳纳米管,所述第一层碳纳米管拉膜和所述第二层碳纳米管拉膜中碳纳米管的延伸方向形成42度至48度的夹角。

基本信息
专利标题 :
基于碳纳米管结构的红外探测器及红外成像仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922374773.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-25
授权号 :
CN211877253U
授权日 :
2020-11-06
发明人 :
金元浩李群庆范守善
申请人 :
清华大学;鸿富锦精密工业(深圳)有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区清华大学清华-富士康纳米科技研究中心401室
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201922374773.7
主分类号 :
G01J5/12
IPC分类号 :
G01J5/12  G01J5/20  G01J5/34  G01J5/48  B82Y30/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
G01J5/10
用电辐射检测器
G01J5/12
用热电元件,例如热电偶
法律状态
2020-11-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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