一种V型透光狭缝光目标测角探头

专利权的终止

摘要

一种V型透光狭缝光目标测角探头，属于光电测量技术领域中涉及的一种测角探头。解决的技术问题是：提供一种V型透光狭缝光目标测角探头。技术方案为：包括V型透光狭缝、遮光罩、线阵CCD、狭缝投影光斑。遮光罩是一个密闭的中空六面体，在其上建立直角坐标系，取一个侧壁的中心为坐标原点“O”，竖直中线为OY轴，水平中线为OX轴，“O”点与相对侧壁的中心连线为OZ轴。线阵CCD水平地安装在坐标原点“O”所在的侧壁水平中线上，线阵CCD的中点与坐标原点“O”点重合；另一侧壁开有透光狭缝，所述的透光狭缝为V型透光狭缝，V型透光狭缝的顶点在竖直中线上，狭缝投影光斑落在线阵CCD所在的侧壁内侧。在应用时透光狭缝面朝向光目标。

基本信息

专利标题：

一种V型透光狭缝光目标测角探头

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200620028811.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2006-05-25

授权号：

CN200958941Y

授权日：

2007-10-10

发明人：

王显军

申请人：

中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

申请人地址：

130031吉林省长春市东南湖大路16号

代理机构：

长春菁华专利商标代理事务所

代理人：

赵炳仁

优先权：

CN200620028811.3

主分类号：

G01B11/26

IPC分类号：

G01B11/26 G01C1/00