大量程导电碳膜阻值线性精度检测刻划仪
专利权的终止
摘要
一种大量程导电碳膜阻值线性精度检测刻划仪，属于电子技术领域，其特征是：单片机的采集输入端接光栅传感器，单片机的输出端接显示器，单片机的输出控制端接步进电机控制修刻机构，修刻的传感器电阻通过A/D转换器接单片机输入端。其有益效果是：量程大、精度高、刻划检测速度快、成品率高。
基本信息
专利标题 ：
大量程导电碳膜阻值线性精度检测刻划仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200620028822.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2006-05-26
授权号 ：
CN201034636Y
授权日 ：
2008-03-12
发明人 ：
李英志
申请人 ：
长春光机数显技术有限责任公司
申请人地址 ：
130033吉林省长春市经开区营口路19号中科院
代理机构 ：
吉林长春新纪元专利代理有限责任公司
代理人 ：
纪尚
优先权 ：
CN200620028822.1
主分类号 ：
G01D18/00
IPC分类号 ：
G01D18/00 G01D5/16
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01D
非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试
G01D18/00
测试或校准大组G01D1/00-G01D15/00中列入的设备或装置
法律状态
2010-09-01 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101005246719
IPC(主分类) : G01D 18/00
专利号 : ZL2006200288221
申请日 : 20060526
授权公告日 : 20080312
号牌文件序号 : 101005246719
IPC(主分类) : G01D 18/00
专利号 : ZL2006200288221
申请日 : 20060526
授权公告日 : 20080312
2008-03-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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