基于单色发光二极管面光源的便携式干涉测量装置
其他有关事项(避免重复授权放弃专利权)
摘要

一种基于单色发光二极管面光源的便携式干涉测量装置,包括一单色发光二极管的面光源,自该单色发光二极管面光源沿光路依次是散射板、第一分光板、标准样板和待检测元件,在所述的第一分光板由标准镜的返回光的反射光路上,依次是第二分光板、物镜和光电探测器,在所述的第二分光板的反射光路上有观察窗口。本实用新型的测量结果既可人工识别,又可通过计算机进行判读。本实用新型装置具有装置轻便、节能、成本低廉、应用广泛、可批量生成等特点,能方便地应用于批量的光学加工过程中的质量控制。

基本信息
专利标题 :
基于单色发光二极管面光源的便携式干涉测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620046360.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-09-27
授权号 :
CN200958977Y
授权日 :
2007-10-10
发明人 :
李永国朱健强
申请人 :
中国科学院上海光学精密机械研究所
申请人地址 :
201800上海市800-211邮政信箱
代理机构 :
上海新天专利代理有限公司
代理人 :
张泽纯
优先权 :
CN200620046360.6
主分类号 :
G01M11/00
IPC分类号 :
G01M11/00  G01M11/02  G01N21/88  G01B9/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/00
光学设备的测试;其他类目未包括的用光学方法测试结构部件
法律状态
2009-06-10 :
其他有关事项(避免重复授权放弃专利权)
放弃生效日 : 2006927
2007-10-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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