光学系统调制传递函数测量仪

专利权的终止

摘要

一种用于光学系统调制传递函数的光学系统调制传递函数测量仪，本测量仪由计算机及其液晶显示屏，支架，二维彩色CCD和基座组成。测量原理是利用计算机产生的随机噪声图作为检测输入，通过分析成像前后图像的功率谱密度，本实用新型只需一次测量就可快速检测得到光学系统的MTF曲线。该仪器通过计算机程序改变检测输入图像，不仅具有快速检测的特点，也可以方便分析影响调制传递函数的各种因素。

基本信息

专利标题：

光学系统调制传递函数测量仪

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200620048728.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2006-12-08

授权号：

CN201043930Y

授权日：

2008-04-02

发明人：

赵罡朱健强

申请人：

中国科学院上海光学精密机械研究所

申请人地址：

201800上海市800－211邮政信箱

代理机构：

上海新天专利代理有限公司

代理人：

张泽纯

优先权：

CN200620048728.2

主分类号：

G01M11/00

IPC分类号：

G01M11/00 G01M11/02

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01M

机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试

G01M11/00

光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件

法律状态

2013-02-13 ：

专利权的终止

未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101393120957
IPC(主分类) : G01M 11/00
专利号 : ZL2006200487282
申请日 : 20061208
授权公告日 : 20080402
终止日期 : 20111208

2008-04-02 ：

授权

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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