一种相干调制传递函数的测量方法
被视为撤回的申请
摘要
一种相干调制传递函数的测量方法，采用光学傅里叶频谱测量法，直接测量强散射屏本身的散斑的频谱强度分布和强散射屏经待测光学成象系统所成象的散斑的频谱强度分布之比值，一次便可测量出待测光学成象系统在各种空间频率下的相干调制传递函数值。本发明既解决了相干调制传递函数的测量问题，且简便易行。
基本信息
专利标题 ：
一种相干调制传递函数的测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85102833A
申请号 ：
CN85102833
公开（公告）日 ：
1986-09-10
申请日 ：
1985-04-01
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
王植恒陈泽先张冠申
申请人 ：
四川大学
申请人地址 ：
四川省成都市九眼桥
代理机构 ：
四川大学专利事务所
代理人 ：
卿微
优先权 ：
CN85102833
主分类号 ：
G01M11/00
IPC分类号 ：
G01M11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/00
光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件
法律状态
1988-03-09 ：
被视为撤回的申请
1986-09-10 ：
公开
1986-07-23 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
