基于脉冲光调制的光时延测量方法及装置
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摘要
本发明公开了一种基于脉冲光调制的光时延测量方法,用单频微波信号对光脉冲信号进行强度调制,并以生成的光载微波信号对待测光链路进行探测;对探测光信号进行光电转换,并从转换后的电信号中提取出单频微波信号的同频分量;在光脉冲信号的脉宽时间内对单频微波信号以及单频微波信号的同频分量同时进行数字化采样,并在数字域得到两者之间的相位差;以光脉冲信号的发出时刻至采样时刻之间的时间作为待测光链路的光时延粗测值,并基于光时延粗测值解算出整周模糊度,进而解算得到待测光链路精确的光时延。本发明还公开了一种基于脉冲光调制的光时延测量装置。本发明具有测量速度快,结构简单,实现成本低,不易受环境影响的优点。
基本信息
专利标题 :
基于脉冲光调制的光时延测量方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113328797A
申请号 :
CN202110658905.8
公开(公告)日 :
2021-08-31
申请日 :
2021-06-15
授权号 :
CN113328797B
授权日 :
2022-04-22
发明人 :
李树鹏潘时龙刘熙王祥传汤晓虎王立晗陈旭峰
申请人 :
南京航空航天大学
申请人地址 :
江苏省南京市江宁区将军大道29号
代理机构 :
北京德崇智捷知识产权代理有限公司
代理人 :
杨楠
优先权 :
CN202110658905.8
主分类号 :
H04B10/079
IPC分类号 :
H04B10/079 H04B10/524
法律状态
2022-04-22 :
授权
2021-09-17 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04B 10/079
申请日 : 20210615
申请日 : 20210615
2021-08-31 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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