基于单频微波相推的光时延测量方法及装置
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摘要
本发明公开了一种基于单频微波相推的光时延测量方法，用频率固定的单频微波信号对连续的单波长光信号进行强度调制，并使用电脉冲信号对所得到的强度调制光信号进行调制，在时域上形成分立的一组光脉冲；以所述光脉冲对待测光链路进行探测，并对所得到的携带了待测光链路时延信息的光脉冲串进行拍频处理；以所述电脉冲信号为参考触发，同时对拍频信号和所述单频微波信号进行模数转换，在数字域得到拍频信号和所述单频微波信号之间的缠绕相位差；基于电脉冲信号的时域信息进行相位解缠，进而依据相推法解算得到待测光链路精确的光时延。本发明还公开了一种基于单频微波相推的光时延测量装置。本发明可实现大范围、高精度、多点的光时延测量。
基本信息
专利标题 ：
基于单频微波相推的光时延测量方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113395110A
申请号 ：
CN202110658913.2
公开（公告）日 ：
2021-09-14
申请日 ：
2021-06-15
授权号 ：
CN113395110B
授权日 ：
2022-04-22
发明人 ：
李树鹏潘时龙王立晗王祥传刘熙汤晓虎陈旭峰
申请人 ：
南京航空航天大学
申请人地址 ：
江苏省南京市江宁区将军大道29号
代理机构 ：
北京德崇智捷知识产权代理有限公司
代理人 ：
杨楠
优先权 ：
CN202110658913.2
主分类号 ：
H04B10/079
IPC分类号 ：
H04B10/079 H04B10/524 H04B10/54 H04B10/548
法律状态
2022-04-22 ：
授权
2021-10-01 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04B 10/079
申请日 : 20210615
申请日 : 20210615
2021-09-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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