测试装置
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
摘要

本实用新型公开一种测试装置,该测试装置包括:支架主体;测试件,设置在该支架主体上,用于屏蔽该显示装置,对该显示装置进行白平衡测试,且该测试件具有一测试开口;位置调整件,设置在该支架主体上,用于调整该测试件与显示装置的对应位置;以及夹固件,在以该位置调整件将该测试件与显示装置的对应位置相互对齐时,借由该夹固件压迫该显示装置,令该显示装置与该测试件紧密接触,由该测试件对该显示装置进行白平衡测试。本实用新型的测试装置可有效遮蔽外界的光线,对该显示装置进行白平衡测试,结构简单,降低结构成本与组装维修成本,可效防止显示装置发生漏光问题。

基本信息
专利标题 :
测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620122112.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-06-28
授权号 :
CN2921846Y
授权日 :
2007-07-11
发明人 :
叶蕾黄官宇乐志林詹士桐杨逸民潘长荣
申请人 :
英业达股份有限公司
申请人地址 :
台湾省台北市
代理机构 :
北京纪凯知识产权代理有限公司
代理人 :
程伟
优先权 :
CN200620122112.5
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01M11/00  G02F1/13  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2009-09-23 :
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
2007-07-11 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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