一种放射性物质射线能区探测系统
专利权的终止
摘要

本实用新型涉及计数式射线探测仪器开发制造领域,尤其涉及探测系统中放射性物质探测系统。包括带射线能量特性的探测器、电子学放大器、数据采集卡、数字阈值控制器、控制、测量、计算数据库和射线能区显示,其中所述电子学放大器为数字双能窗电子学放大器。本实用新型既保证了系统对放射性物质探测的高灵敏特性,又使系统对所探测射线的能量区域具有识别功能,并且设计简单、兼容性好,适应范围广,不需配复杂设备,运行成本低,可以方便地应用于各种目的计数式射线探测系统。

基本信息
专利标题 :
一种放射性物质射线能区探测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620173211.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-12-31
授权号 :
CN201004087Y
授权日 :
2008-01-09
发明人 :
阮明李建华朱珈庆赵崑
申请人 :
同方威视技术股份有限公司
申请人地址 :
100084北京市海淀区双清路同方大厦A座二层
代理机构 :
北京路浩知识产权代理有限公司
代理人 :
练光东
优先权 :
CN200620173211.6
主分类号 :
G01T1/20
IPC分类号 :
G01T1/20  G01T1/203  G01T1/36  G01T1/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/20
用闪烁探测器
法律状态
2017-01-25 :
专利权的终止
专利权有效期届满号牌文件类型代码 : 1611
号牌文件序号 : 101700188525
IPC(主分类) : G01T 1/20
专利号 : ZL2006201732116
申请日 : 20061231
授权公告日 : 20080109
终止日期 : 无
2008-01-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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