双能谱双分辨率的X-射线探测器及探测系统
授权
摘要
本实用新型公开一种双能谱双分辨率的X‑射线探测器及探测系统，探测器包括层叠设置的第一可见光传感器、第一荧光材料层、封装材料隔层、第二荧光材料层和第二可见光传感器，第一可见光传感器较第二可见光传感器靠近X‑射线源，第一可见光传感器的分辨率大于第二可见光传感器；第一可见光传感器吸收由第一荧光材料层受X‑射线激发而产生的可见光子；第二可见光传感器吸收由第二荧光材料层受X‑射线激发而产生的可见光子；封装材料隔层用于隔离第一荧光材料层受X‑射线激发而产生的可见光子与第二荧光材料层受X‑射线激发而产生的可见光子。本系统的上下两层探测器可以分别输出高分辨率图像和高能吸收图像，还可以通过图像算法得到感兴趣的图像。
基本信息
专利标题 ：
双能谱双分辨率的X-射线探测器及探测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020192155.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-02-21
授权号 ：
CN211826543U
授权日 ：
2020-10-30
发明人 ：
徐永程佳
申请人 ：
江苏康众数字医疗科技股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市工业园区星湖街218号生物纳米园A2楼、B3楼501室
代理机构 ：
苏州创元专利商标事务所有限公司
代理人 ：
吴芳
优先权 ：
CN202020192155.0
主分类号 ：
G01T1/36
IPC分类号 ：
G01T1/36 A61B6/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/175
电源电路
G01T1/36
测量X射线或核辐射的能谱分布
法律状态
2020-10-30 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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