X射线光电子能谱电化学原位池
授权
摘要

本实用新型公开了一种X射线光电子能谱电化学原位池,包括:样品台基架、凹设于样品台基架上的样品槽、置于样品槽内的样品放置部、及设于样品台基架上的充放电测试通道,样品台基架的一侧壁设有固定柱;样品放置部设有绝缘层及样品池组件;充放电测试通道包括绝缘陶瓷组件、两个电极引脚以及两根导线,保证样品与仪器外部电化学工作仪连通。本实用新型的样品池组件形状大小可控,可实现不同电池样品以及不同组分的测量,在实现样品原位电场加载和测量的同时,还可以实现电池样品充放电循环过程中的原位XPS检测。

基本信息
专利标题 :
X射线光电子能谱电化学原位池
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922113869.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-30
授权号 :
CN211856411U
授权日 :
2020-11-03
发明人 :
崔园园吴越宋玉婷胡晓春黄涛宏
申请人 :
岛津企业管理(中国)有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区自由贸易试验区富特西一路381号汤臣园区A1楼第6层B部位
代理机构 :
北京献智知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
杨献智
优先权 :
CN201922113869.8
主分类号 :
G01N23/2273
IPC分类号 :
G01N23/2273  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/227
测量光电效应,例如,光电子发射显微镜
G01N23/2273
测量光电子光谱,例如用于化学分析的电子光谱或X射线光电子能谱
法律状态
2020-11-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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