一种原位X射线表征装置
授权
摘要
本实用新型提供一种原位X射线表征装置,包括:原位腔体,所述原位腔体的轴向两端分别为入射窗口和出射窗口,所述原位腔体上设有外部气体接口,以及辐照设备接口;设置于所述原位腔体内的样品舱,所述样品舱可进行加热;以及设置于所述样品舱内用于盛放样品的坩埚;其中,所述原位X射线表征装置的气体种类,和/或真空度,和/或辐照条件,和/或加热温度均可调节,实现对所述样品在不同条件下的信号测量。根据本实用新型,提供了一种可同时满足高温,特定气体环境,熔盐接触以及原位辐照等多种要求的原位X射线表征装置。
基本信息
专利标题 :
一种原位X射线表征装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021256275.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-30
授权号 :
CN212622327U
授权日 :
2021-02-26
发明人 :
张兴民文闻周兴泰高梅高兴宇雷琦黄宇营
申请人 :
中国科学院上海应用物理研究所
申请人地址 :
上海市嘉定区嘉罗公路2019号
代理机构 :
上海智信专利代理有限公司
代理人 :
余永莉
优先权 :
CN202021256275.9
主分类号 :
G01N23/085
IPC分类号 :
G01N23/085 G01N23/20008 G01N23/223 B01L1/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/05
利用中子
G01N23/085
X射线吸收微细结构,例如扩展XAFS
法律状态
2021-02-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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