一种X射线光电子能谱仪中粉末样品制样模具组件
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摘要

本实用新型提供了一种X射线光电子能谱仪中粉末样品制样模具组件,包括上模具、下模座、内套和压头,上模具通过长螺钉与压力机固定连接,下模座也通过长螺钉固定于压力机的底座,压头的顶端与上模具固定连接,内套与压头相互之间配套使用,压头具体为连接上模具和内套的长柱体,且压头数量设置在1‑10个之间,下模座的中间开设有内凹槽,下模座的内侧在内凹槽的中间开设有样品槽,样品槽与内套以及压头相互配套作用完成粉末样品的制样过程,本实用新型通过在上模具内侧设置有多个压头,从而使得制样模具组件可以一次性利用多个压头与内套的作用同时压制多个粉末样品,大幅度缩短制样时间,提高了制样效率。

基本信息
专利标题 :
一种X射线光电子能谱仪中粉末样品制样模具组件
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920459214.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-04-08
授权号 :
CN209656601U
授权日 :
2019-11-19
发明人 :
冯婷祁成林赵婧鑫
申请人 :
北京科技大学
申请人地址 :
北京市海淀区学院路30号北京科技大学
代理机构 :
西安汇恩知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
邢立立
优先权 :
CN201920459214.3
主分类号 :
G01N23/2273
IPC分类号 :
G01N23/2273  G01N23/2202  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/227
测量光电效应,例如,光电子发射显微镜
G01N23/2273
测量光电子光谱,例如用于化学分析的电子光谱或X射线光电子能谱
法律状态
2019-11-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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