X射线衍射用电化学分析原位池
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摘要

本实用新型涉及分析原位池技术领域,且公开了X射线衍射用电化学分析原位池,包括连接底板,所述连接底板的顶部滑动连接有贯穿连接底板并延伸至连接底板内部的电极柱,所述电极柱的外部固定连接有与连接底板滑动连接的稳定环,所述稳定环的相离侧均固定连接有弹簧箱,所述弹簧箱的外部滑动连接有贯穿与稳定环并延伸至连接底板内部的固定插块。该X射线衍射用电化学分析原位池,通过设置电极柱外部固定连接的弹簧箱,从而滑动连接固定插块,从而使连接底板和稳定环的连接稳定,又通过设置固定插块外部的把手和弹簧,从而达到固定插块活动便捷的目的,达到连接底板和稳定环的连接便于控制的目的,方便了使用者的使用。

基本信息
专利标题 :
X射线衍射用电化学分析原位池
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020089027.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-01-16
授权号 :
CN212207169U
授权日 :
2020-12-22
发明人 :
吴玉莲王玲玲杨小祥李颜王传真李润发
申请人 :
南通励思仪电子科技有限公司
申请人地址 :
江苏省南通市崇川区新城桥街道启秀社区附属用房
代理机构 :
佛山卓就专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
赵勇
优先权 :
CN202020089027.3
主分类号 :
G01N23/20008
IPC分类号 :
G01N23/20008  G01N27/26  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
法律状态
2020-12-22 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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