一种双能射线阵列探测器
授权
摘要
本实用新型公开了一种双能射线阵列探测器,包括底座,所述底座内腔正面的左侧和背面的左侧均设置有调节装置,所述底座内腔的左侧竖向设置有支撑柱,所述支撑柱的底部固定连接有导轮,且导轮的底部与底座内腔的底部接触,所述支撑柱的顶部贯穿至底座的顶部并固定连接有支撑板,所述支撑板的右侧固定连接有凹型座。本实用新型通过设置底座、调节装置、支撑柱、支撑板、凹型座、探测器主体、固定柱、壳体和锁紧装置的相互配合,达到了便于拆装的优点,解决了现有的双能射线阵列探测器不便于拆装的问题,当人们需要对其拆卸保养维护时,省时省力,拆装简单,减少人们的劳动力,方便人们使用,提高了双能射线阵列探测器的实用性。
基本信息
专利标题 :
一种双能射线阵列探测器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922131629.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-03
授权号 :
CN211179586U
授权日 :
2020-08-04
发明人 :
王洪波
申请人 :
石家庄同源微光电技术制造有限公司
申请人地址 :
河北省石家庄市鹿泉区昌盛大街21号信息产业园
代理机构 :
石家庄知住优创知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王丽巧
优先权 :
CN201922131629.0
主分类号 :
G01N23/046
IPC分类号 :
G01N23/046 G01T1/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/046
应用X光断层技术,如计算机X光断层技术
法律状态
2020-08-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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