正交双源双探测器X射线显微镜系统
授权
摘要

本实用新型公开一种正交双源双探测器X射线显微镜系统,包括:底座;可移动式设置在底座中部的载物台;可移动式设置的第一射线源组件和第一探测器组件,第一探测器接收由第一射线源形成的扫描图像;固定的第二射线源组件和可移动式设置的第二探测器组件,第二探测器接收由第二射线源形成的扫描图像。通过本实用新型方案,两种焦点尺寸的射线源处于同一平台,实现不同的放大效果,为各种尺寸试件的CT检测提供了一个完整的平台,满足对空间分辨率、工件大小、设备数量的不同要求;可以使用一套控制系统,一套采集分析软件,成本低,效果佳,维护成本低,数据直观。

基本信息
专利标题 :
正交双源双探测器X射线显微镜系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022007236.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-15
授权号 :
CN212847715U
授权日 :
2021-03-30
发明人 :
闫慧龙李志军
申请人 :
斯托克斯检测技术(北京)有限公司
申请人地址 :
北京市顺义区北务镇民泰路13号院9号楼406F(科技创新功能区)
代理机构 :
北京天方智力知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
白凯园
优先权 :
CN202022007236.1
主分类号 :
G21K7/00
IPC分类号 :
G21K7/00  G01N23/046  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G21
核物理;核工程
G21K
未列入其他类目的粒子或电离辐射的处理技术;照射装置;γ射线或X射线显微镜
G21K7/00
γ射线或X射线显微镜
法律状态
2021-03-30 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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