TALBOT X射线显微镜
授权
摘要

用于x射线显微镜的系统使用具有微米尺度或纳米尺度束强度分布的微束阵列,以提供对物体的微米尺度或纳米尺度区域的选择性照射。阵列检测器被定位为使得检测器的每个像素仅检测与单个微米尺度束或纳米尺度相对应的x射线。这允许由每个x射线检测器像素产生的信号能够用所照射的特定、有限的微米尺度或纳米尺度区域来识别,从而允许在使用更大尺寸和尺度的像素的检测器的情况下,生成纳米尺度或微米尺度的物体的采样透射图像。因此,可以使用量子效率更高的检测器,因为横向分辨率仅由微米尺度束或纳米尺度束的尺寸提供。可以使用阵列x射线源和一组Talbot干涉条纹来产生微米尺度或纳米尺度的束。

基本信息
专利标题 :
TALBOT X射线显微镜
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110520716A
申请号 :
CN201880025128.X
公开(公告)日 :
2019-11-29
申请日 :
2018-04-16
授权号 :
CN110520716B
授权日 :
2022-05-13
发明人 :
云文兵西尔维娅·贾·云·路易斯雅诺什·科瑞大卫·维恩斯里瓦特桑·塞沙德里
申请人 :
斯格瑞公司
申请人地址 :
美国加利福尼亚州
代理机构 :
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
代理人 :
林强
优先权 :
CN201880025128.X
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04  G01N23/044  G01N23/046  G01N23/083  G21K7/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2022-05-13 :
授权
2019-12-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/04
申请日 : 20180416
2019-11-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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