X射线平板探测器

授权

摘要

本实用新型提供一种X射线平板探测器。该探测器包括将X射线转换成可见光的光子转换层和设置在其上供可见光透过的透明电极层，还包括：非晶硅层，其用于吸收透过透明电极层的可见光的短波部分且输出第一电信号，非晶硅层包括依次层叠在透明电极层上的P型、I型、N型非晶硅子层；微晶硅层，其用于吸收可见光的长波部分且输出第二电信号，微晶硅层包括依次层叠在N型非晶硅子层上的P型、I型、N型微晶硅子层；以及设置在N型微晶硅子层上的金属电极层；其中，第一电信号和第二电信号共同驱动相应数量的第一载流子和第二载流子分别朝向透明电极层和金属电极层移动并被收集。本实用新型能减小漏电流、提高及稳定光电转换效率、提高成像质量。

基本信息

专利标题：

X射线平板探测器

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922378081.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-12-26

授权号：

CN210805804U

授权日：

2020-06-19

发明人：

马哲国

申请人：

上海理想万里晖薄膜设备有限公司

申请人地址：

上海市松江区思贤路3255号3幢403室

代理机构：

代理人：

优先权：

CN201922378081.X

主分类号：

H01L31/109

IPC分类号：

H01L31/109 H01L31/0216