分析物无创检测的方法和装置
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
本发明提供用于组织(208)特性的准确无创检测的方法和装置。本发明的一些实施例包括具有照射子系统(201)和聚集子系统(222)的光学取样器(221)，所述照射子系统适合于将具有第一偏振(205)的光传递到组织表面(208)，所述聚集子系统适合于聚集在与组织(208)相互作用之后而从组织(209)传递的具有第二偏振的光；其中所述第一偏振不同于所述第二偏振。偏振中的差异可阻碍从组织表面(208)镜面反射的光的聚集，并可促进与组织中期望的穿透深度或路径长度分布相互作用的光的优先聚集。例如，不同的偏振可为在其之间具有角度的线偏振或旋向性不同的椭圆偏振。
基本信息
专利标题 ：
分析物无创检测的方法和装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101151513A
申请号 ：
CN200680010479.0
公开（公告）日 ：
2008-03-26
申请日 ：
2006-02-09
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
里斯·M·罗宾森拉塞尔·E·艾宾克罗伯特·D·约翰逊
申请人 ：
音莱特解决方案有限公司
申请人地址 ：
美国新墨西哥州
代理机构 ：
北京安信方达知识产权代理有限公司
代理人 ：
陈怡
优先权 ：
CN200680010479.0
主分类号 ：
G01J4/00
IPC分类号 ：
G01J4/00 B08B7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J4/00
测量光的偏振
法律状态
2011-01-05 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101058503988
IPC(主分类) : G01J 4/00
专利申请号 : 2006800104790
公开日 : 20080326
号牌文件序号 : 101058503988
IPC(主分类) : G01J 4/00
专利申请号 : 2006800104790
公开日 : 20080326
2008-05-21 ：
实质审查的生效
2008-03-26 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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