标本分析方法及标本分析装置
发明专利申请公布后的驳回
摘要
一种能够在对标本进行分析之前检测出干涉物质的标本分析方法及设备。本方法包括以下步骤：将吸移试样容器(150)中装有的标本，分装到第1容器(153)中；对所述第1容器中的标本进行光学测定；分装所述标本到第2容器(154)，在第2容器中将标本与试剂混合，调制测定用试样；根据所述标本的光学测定结果，对测定用试样进行分析。
基本信息
专利标题 ：
标本分析方法及标本分析装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101151534A
申请号 ：
CN200680010576.X
公开（公告）日 ：
2008-03-26
申请日 ：
2006-03-23
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
山本典正山登隆司松尾直彦井口圣
申请人 ：
希森美康株式会社
申请人地址 ：
日本兵库县
代理机构 ：
北京金之桥知识产权代理有限公司
代理人 ：
梁朝玉
优先权 ：
CN200680010576.X
主分类号 ：
G01N35/00
IPC分类号 ：
G01N35/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N35/00
不限于用G01N1/00至G01N33/00中任何单独一组提供的方法或材料所进行的自动分析；及材料的传送
法律状态
2014-10-15 ：
发明专利申请公布后的驳回
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101705999022
IPC(主分类) : G01N 35/00
专利申请号 : 200680010576X
申请公布日 : 20080326
号牌文件序号 : 101705999022
IPC(主分类) : G01N 35/00
专利申请号 : 200680010576X
申请公布日 : 20080326
2008-07-16 ：
实质审查的生效
2008-03-26 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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