有序孔阵列透射式波长计

专利权的主动放弃

摘要

本实用新型公开了一种有序孔阵列透射式波长计。它包括平行光源(1)和其光路上的半透镜和平面镜，以及移动台，特别是(a)平行光源(1)的入射角与半透镜相垂直，(b)半透镜或平面镜位于移动台上，(c)半透镜由透明衬底(2)和有序孔阵列(3)构成，有序孔阵列(3)的孔阵列周期为200nm～20μm，(d)平面镜为显示屏(5)，其位于透明衬底(2)的附有有序孔阵列(3)的一侧，且与有序孔阵列(3)间的距离为20cm～1m；所述的有序孔阵列(3)为二维多畴有序孔阵列，其层数为一层，孔形为圆孔、且呈六方排列。它能测量光谱范围从几十纳米到几十微米的入射光的波长，且精度适中，可广泛用于科学研究和工程技术领域中的实时和在线测量。

基本信息

专利标题：

有序孔阵列透射式波长计

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200720034109.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2007-01-25

授权号：

CN201041516Y

授权日：

2008-03-26

发明人：

段国韬蔡伟平李越罗媛媛

申请人：

中国科学院合肥物质科学研究院

申请人地址：

230031安徽省合肥市1110信箱

代理机构：

代理人：

优先权：

CN200720034109.2

主分类号：

G01J9/02

IPC分类号：

G01J9/02