天线测量系统及其发射天线结构
专利权的终止
摘要

本实用新型公开一种天线测量系统及其发射天线结构,天线测量系统包括一待测天线及一发射天线结构,其中,发射天线结构包括一反射组件、一发射源以及一阻抗结构,发射源用于朝向反射组件的抛物面发出一无线电波,再由抛物面将无线电波朝待测天线的方向辐射。由于无线电波经由反射组件辐射后成为平面波,因此,待测天线可在距离反射组件较短的范围内接收平面波,使本系统有效减少测量天线远场场型所需的空间。再者,本系统更藉由阻抗结构连接于抛物面外缘,以电性匹配反射组件,达到改善因抛物面而产生一边缘绕射干扰的情况。

基本信息
专利标题 :
天线测量系统及其发射天线结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720050904.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-04-28
授权号 :
CN201037856Y
授权日 :
2008-03-19
发明人 :
周信辉
申请人 :
佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司;神达电脑股份有限公司
申请人地址 :
528308广东省佛山市顺德区伦教街道顺达路一号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN200720050904.0
主分类号 :
G01R29/10
IPC分类号 :
G01R29/10  H01Q19/12  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
G01R29/10
天线的辐射图
法律状态
2012-07-04 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101280309901
IPC(主分类) : G01R 29/10
专利号 : ZL2007200509040
申请日 : 20070428
授权公告日 : 20080319
终止日期 : 20110428
2008-03-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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