斜度辅助测量治具

专利权的终止

摘要

本实用新型公开了一种斜度辅助测量治具，用于辅助测量待测物体，该待测物体具有第一平面以及与该第一平面成一特定角度的第一斜面，该治具具有一第二平面以及与该第二平面成上述特定角度的第二斜面。如此，当需要测量该待测物体的第一斜面与第一平面所成的特定角度是否加工精确时，只需将该治具的第二斜面抵触于该第一斜面上，然后利用卡尺卡在该第一、二平面上即可测出该待测物体第一斜面与第一平面所成的特定角度是否加工精确。本实用新型无需利用如高度规、投影仪、三次元等精密仪器进行测量，而通过普通卡尺即可测量出待测物体加工是否精确，方便了测量的同时，亦可提高测量的精度。

基本信息

专利标题：

斜度辅助测量治具

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200720059944.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2007-11-23

授权号：

CN201152743Y

授权日：

2008-11-19

发明人：

万平

申请人：

佛山市顺德区汉达精密电子科技有限公司

申请人地址：

528308广东省佛山市广东省佛山市顺德区伦教街道熹涌伦兴中路一号

代理机构：

代理人：

优先权：

CN200720059944.1

主分类号：

G01C9/00

IPC分类号：

G01C9/00 G01B5/24