辅助测量治具以及测量系统
授权
摘要
本申请公开了一种辅助测量治具以及测量系统。该辅助测量治具至少包括支架；至少一个支撑槽，设置于支架上，支撑槽包括第一支撑壁和第二支撑壁，第一支撑壁和第二支撑壁之间的夹角小于180°，第一支撑壁和第二支撑壁用于支撑待测量的管材；至少一个压柱，用于压置待测量的管材，以将待测量的管材固定在支撑槽内。通过这种从辅助固定管材的方式，能够避免管材在测量的过程中滚动，进而降低了测量管材的操作难度，有效地提高了测量效率。
基本信息
专利标题 ：
辅助测量治具以及测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021642109.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-07
授权号 ：
CN212567346U
授权日 ：
2021-02-19
发明人 ：
石金成
申请人 ：
深圳市大富方圆成型技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市光明新区公明街道长圳长兴科技工业园28栋
代理机构 ：
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
黎坚怡
优先权 ：
CN202021642109.2
主分类号 ：
G01B21/10
IPC分类号 ：
G01B21/10 B25H1/06 B25H1/10 B25H1/12
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
G01B21/10
用于计量直径
法律状态
2021-02-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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