测量治具及测量系统
授权
摘要
本申请公开了一种测量治具及测量系统，测量治具，用于承载3D玻璃模组，其包括基座，所述基座具有至少第一斜面和至少第一水平面；所述至少第一斜面用于承托所述3D玻璃模组主工作面，所述主工作面为所述3D玻璃模组上的最大平面；所述至少第一水平面与所述至少第一斜面一一对应地连接于所述至少第一斜面的底部，所述至少第一水平面沿所述至少第一斜面之间呈第一夹角，所述至少第一水平面向远离与其连接的所述第一斜面的方向延伸，以在所述3D玻璃模组置于所述第一斜面时，所述3D玻璃模组的弧边贴合于至少部分所述第一水平面，使所述弧边保持水平状态；其中，所述第一夹角大于或等于90度。
基本信息
专利标题 ：
测量治具及测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122084331.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-08-31
授权号 ：
CN216246108U
授权日 ：
2022-04-08
发明人 ：
李青李赫然李大洋展贵鑫杨宏孝何毅
申请人 ：
江苏如天光电科技有限公司;北京远大信达科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省南通市如皋市城南街道解放路2号
代理机构 ：
北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
赵洋
优先权 ：
CN202122084331.6
主分类号 ：
G01B11/02
IPC分类号 ：
G01B11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2022-04-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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