一种测量系统辅助治具

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摘要

本实用新型公开了一种测量系统辅助治具，包括：量测部件、用于竖直支承放置被测物的辅助治具、用于调节所述辅助治具的测量选定位置的调节装置以及用于提供所述被测物的基准面中心与所述量测部件的光轴之间的相对位置信息的测试装置，所述量测部件可拆卸地设置于所述被测物的基准面上，所述辅助治具与所述调节装置相连接，所述测试装置设置于所述辅助治具的上方。相比于传统技术，本实用新型能够实时获取被测物的基准面测量平坦情况并根据实际情况来对应调节辅助治具的位置，可为被测物提供更佳的测量位置，从而减少测量误差，使被测物的加工及改善工序更加优化。

基本信息

专利标题：

一种测量系统辅助治具

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921417995.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-08-28

授权号：

CN210664329U

授权日：

2020-06-02

发明人：

张廷力

申请人：

捷西迪（广州）光学科技有限公司

申请人地址：

广东省广州市高新技术产业开发区科学城科珠路202号

代理机构：

广州嘉权专利商标事务所有限公司

代理人：

付奕昌

优先权：

CN201921417995.6

主分类号：

G01B11/00

IPC分类号：

G01B11/00