测量治具和测量装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种测量治具和具有该测量治具的测量装置，测量治具用于固定工件，以使工件的待测表面朝向测量仪器，测量治具包括支撑件、连接件和固定件，固定件的一端连接于连接件，固定件的另一端用于固定工件，支撑件与连接件连接，且连接件相对支撑件在转动预设角度后固定，以使固定件相对支撑件具有多个角度。通过设置支撑件和连接件连接，连接件能够相对支撑件转动预设角度后周向固定，固定件可以在相对支撑件的不同角度下的多个位置固定，从而使得固定件上的工件不同侧的待测表面均可朝向测量仪器，测量仪器在使用单个测量治具的前提下，可测量工件多侧的待测表面，降低了测量治具的制造成本。
基本信息
专利标题 ：
测量治具和测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021704809.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-14
授权号 ：
CN212931314U
授权日 ：
2021-04-09
发明人 ：
郝亮
申请人 ：
江西晶润光学有限公司
申请人地址 ：
江西省南昌市南昌高新技术产业开发区天祥北大道1404号
代理机构 ：
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 ：
熊永强
优先权 ：
CN202021704809.X
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00 B25B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2021-04-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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