实时测量表面形貌的正弦相位调制干涉装置
专利权的终止
摘要

一种实时测量表面形貌的正弦相位调制干涉装置,包括一半导体激光器,沿该半导体激光器的出射光束前进方向同光轴地依次设置第一透镜组、分束器,在该分束器的透射光束的前进方向上设置被测物体,在分束器的反射光束的前进方向上放置有参考平板;被参考平板反射的光束前进方向上依次放置有第二透镜和探测元件,其特征在于:所述的探测元件的输出端与信号处理单元的第一输入端相连接,信号处理单元的输出端与计算机相连接,直流电源和信号源通过驱动器与半导体激光器相连接,该信号源的第二输出端与所述的信号处理单元的第二输入端相连接。本实用新型的优点是操作方便,测量范围大,精度高。

基本信息
专利标题 :
实时测量表面形貌的正弦相位调制干涉装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720067117.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-02-07
授权号 :
CN201003947Y
授权日 :
2008-01-09
发明人 :
何国田王向朝
申请人 :
中国科学院上海光学精密机械研究所
申请人地址 :
201800上海市800-211邮政信箱
代理机构 :
上海新天专利代理有限公司
代理人 :
张泽纯
优先权 :
CN200720067117.7
主分类号 :
G01B9/02
IPC分类号 :
G01B9/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B9/00
组中所列的及以采用光学测量方法为其特征的仪器
G01B9/02
干涉仪
法律状态
2011-04-20 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101063897188
IPC(主分类) : G01B 9/02
专利号 : ZL2007200671177
申请日 : 20070207
授权公告日 : 20080109
终止日期 : 20100207
2008-01-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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